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- 集成電路測(cè)試
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集成電路測(cè)試平臺(tái)ICE3200
產(chǎn)品型號(hào)：ICE3200
集成電路測(cè)試平臺(tái)ICE3200
- 詳細(xì)內(nèi)容
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一、測(cè)試主機(jī)
1. 邏輯分析儀功能：≥16路數(shù)字通道，支持SPI、I2C、并行信號(hào)分析；
2. 示波器功能：≥2通道，100MHz帶寬，≥1GS采樣率；
3. 任意波形發(fā)生器功能：頻率≥20MHz；
4. 數(shù)字萬(wàn)用表功能：分辨率≥4?，最大電壓≥1000V；
5. 可編程直流電源功能：最大電壓≥6V、±12V，最大電流≥2A；
6. 具有≥2路PCI DUT接口，開放PCI接口定義，≥1個(gè)開放面包板，提供DUT，被測(cè)參數(shù)包括但不限于INL、DNL、LSB、Offset Error、SNR、THD、SINAD等；
7．支持Wifi、USB連接，支持LabVIEW、C和Python等編程語(yǔ)言開發(fā)；
8. 配套《集成電路測(cè)試》實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書，實(shí)驗(yàn)內(nèi)容包含測(cè)試儀器使用、ADC靜態(tài)參數(shù)測(cè)試、ADC動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試、運(yùn)算放大器參數(shù)測(cè)試、晶體管參數(shù)測(cè)試、功能電路參數(shù)測(cè)試及用戶自定義實(shí)驗(yàn)，并提供實(shí)驗(yàn)程序；支持MCU、FPGA、LDO、EEPROM、FLASH等測(cè)試。
二、控制系統(tǒng)
1. Intel I5處理器；
2. 8G或以上內(nèi)存；
3. 120G或以上固態(tài)硬盤；
4. 21寸或以上液晶顯示器；
5. 專用工控機(jī)箱；
6. 配套鍵盤、鼠標(biāo)等外設(shè)。
三、源表
1. 最大輸出功率：30W；
2. 最大輸出電壓、電流：30V、1A；
3. 輸出準(zhǔn)確度：0.1%；
4. 測(cè)量準(zhǔn)確度：0.1%；
5. 穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF；
6. 寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS,<20mV Vp-p；
7. 采樣率：1000S/s。
四、半導(dǎo)體器件仿真、測(cè)試與分析實(shí)驗(yàn)不少于30個(gè)
五、集成電路仿真、測(cè)試與分析實(shí)驗(yàn)不少于18個(gè)
